VECTOR SEMICONDUCTOR
  • Home
  • 会社概要
    • プライバシーポリシー
  • 製品一覧
    • プローバー >
      • TS50プローブシステム >
        • TS50 小型卓上タイプ
        • IMPACT™テストソリューション
      • マニュアルシステム >
        • TS150,TS200,TS300      DC測定/RF測定
        • TS150-THZ        mmW / THz
        • TS150-AIT, TS200-THZ mmW/THz/load pull
        • TS200-SE    ShielDEnvironment™
        • TS300-IFE / TS300-SE
      • セミオートシステム >
        • TS2000_シンプル&スマート
        • TS2000-SE_ShielDEnvironment™
        • TS3000_RF/不良解析/信頼性試験
        • TS3000-SE_ShielDEnvironment™
        • SiPH_シリコンフォトニクス
      • パワーデバイス測定システム >
        • TS150-HP, TS200-HP   マニュアルシステム
        • TS2000-DP        セミオートダークボックス
        • TS2000-HP        セミオートライトカーテン
      • PCBプローブシステム >
        • TS300-PCBプローブシステム
        • TS600-PCBプローブシステム
      • フルオートシステム >
        • TS2000-IFE
        • TS2500シリーズ
        • TS3500シリーズ   WaferWallet
      • システムアクセサリ >
        • チャック
        • ポジショナ
        • DC/RFプローブアーム
        • 顕微鏡
        • レーザーカッター
    • RFプローブ >
      • TITAN RF Probe
      • TITAN Multi Contact Probe
      • AC 校正基板
      • QAlibria校正用ソフト
      • RFアクセサリ
    • Photonics Automation >
      • PROBER SERIES >
        • LEAD Line
        • Sky Walker Line
      • TESTING SOLUTION
      • SORTER SERIES >
        • LED Mapping Sorter
      • AOI SERIES
  • App Note
  • 新着情報
  • お問い合わせ
PCB用マニュアル型プローブシステムは、幅広いプリント基板ホルダに対応し、シグナル・インテグリティ(SI)測定を簡単かつ正確に行うことができます。アイパターン、ジッタ、歪み、TDRインピーダンス、クロストーク、カップリング、損失およびSパラメータのシングルエンドまたは差動型RFプローブ測定を可能にします。
画像
PCBプローブシステム
TS300-PCB
​TS600-PCB
Proudly powered by Weebly
  • Home
  • 会社概要
    • プライバシーポリシー
  • 製品一覧
    • プローバー >
      • TS50プローブシステム >
        • TS50 小型卓上タイプ
        • IMPACT™テストソリューション
      • マニュアルシステム >
        • TS150,TS200,TS300      DC測定/RF測定
        • TS150-THZ        mmW / THz
        • TS150-AIT, TS200-THZ mmW/THz/load pull
        • TS200-SE    ShielDEnvironment™
        • TS300-IFE / TS300-SE
      • セミオートシステム >
        • TS2000_シンプル&スマート
        • TS2000-SE_ShielDEnvironment™
        • TS3000_RF/不良解析/信頼性試験
        • TS3000-SE_ShielDEnvironment™
        • SiPH_シリコンフォトニクス
      • パワーデバイス測定システム >
        • TS150-HP, TS200-HP   マニュアルシステム
        • TS2000-DP        セミオートダークボックス
        • TS2000-HP        セミオートライトカーテン
      • PCBプローブシステム >
        • TS300-PCBプローブシステム
        • TS600-PCBプローブシステム
      • フルオートシステム >
        • TS2000-IFE
        • TS2500シリーズ
        • TS3500シリーズ   WaferWallet
      • システムアクセサリ >
        • チャック
        • ポジショナ
        • DC/RFプローブアーム
        • 顕微鏡
        • レーザーカッター
    • RFプローブ >
      • TITAN RF Probe
      • TITAN Multi Contact Probe
      • AC 校正基板
      • QAlibria校正用ソフト
      • RFアクセサリ
    • Photonics Automation >
      • PROBER SERIES >
        • LEAD Line
        • Sky Walker Line
      • TESTING SOLUTION
      • SORTER SERIES >
        • LED Mapping Sorter
      • AOI SERIES
  • App Note
  • 新着情報
  • お問い合わせ