テクニカルライブラリ
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BSIMProPlus™とSENTIO®を使った自動測定
アプリケーションノート BSIMProPlusTMとSENTIO® V 2.8.0ソフトウェアの組み合わせで使用いただくことにより、MPIセミオート・プローバー(TS3000-SE等)でIV/CVの自動測定が可能となります。 |
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NoiseProPlus™と SENTIO®を使った1/f ノイズ自動測定
アプリケーションノート NoiseProPlus™ とSENTIO® プロ―バー制御用ソフトウェアをご使用いただくことによりMPIセミオート・プローバー(TS3000-SE等)を使って自動で1/fノイズ測定が可能となります。 |
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複雑なTHz周波数帯測定の簡略化
アプリケーションノート マニュアル・プローバーを使って計量学レベルの高精度測定の実現 |
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ウェハーレベルRF測定の測定手法の動向
アプリケーションノート |
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Improving Wafer-Level Calibration Consistency with TMRR Calibration Method
論文 ARFTG-91st、June 15、2018、Philadelphia、PA、USA ウェハーでの校正が安定にできる Thru-Match-Reflect (TMR) 校正法について紹介します。 |
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TITAN™RFプローブクイックセットアップガイド
Quick How-To Reference TITAN™プローブ・ヘッドの平行度の出し方、クリーニング、使用方法について解説し、正しくご使用いただくことにより再現性のある測定と校正を可能とすることをご説明します。 |
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Defining Cal Kit for Keysight PNA and TITAN™ Probes
Quick How-To Reference キーサイト社のVNAのPNAシリーズのカスタム・キャルキットおよびTITAN™プローブ・ヘッドの定義づけの方法について解説します。(組合せ例 T26A-GSG0150 TITAN™ プローブ・ヘッド、AC2校正基板、20 GHz PNAL VNA) |
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C-V Measurements at the Wafer-Level
Quick How-To Reference 高精度CV測定へのソリューション、プローブ・チップまでのシステム・キャリブレーションおよびキャリブレーションの検証方法について解説します。 |
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On-Wafer Small-Signal and Large-Signal Measurements up to Sub-THz Frequencies
論文 バイポーラ/ BiCMOS回路および技術会議（BCTM）、28 Sep - 01 Oct 2014、Coronado、CA、USA アクティブ/パッシブデバイスの正確な特性評価の基盤となる、オンウェハーミリ波周波数帯での小信号・大信号校正について考察します。 |
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Temperature Impact on the In-Situ S-Parameter Calibration in Advanced SiGe Technologies
論文 バイポーラ/ BiCMOS回路および技術会議（BCTM）、28 Sep - 01 Oct 2014、Coronado、CA、USA 校正基板の電気特性の熱的変動によるマルチラインTRLおよびTMR校正手法のin-situ Sパラメータを分析します。 |
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On-Wafer S-Parameters & Uncertainties
MPI corporation ARFTG-86th、Dec 1-2、2015、Atlanta、GA、USAのNIST-ARFTG短波マイクロ波測定コース オンウェハーでのSパラメータ測定の基本および校正技術について説明します。特に正しい校正手法の選択方法、校正されている機器の校正基準インピーダンスに重きをおき解説していきます。また校正の残余誤差の発生原因について分析し、実例をあげ、そのような誤差によるインパクトを最小限に抑え、高精度な測定を実現する方法について解説していきます。 |
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mm-Wave Calibration and De-Embedding
MPI corporation RF MEMSおよびRFマイクロシステムに関する11th国際サマースクール、IHPマイクロエレクトロニクス、June 22-26、2015、フランクフルト（ドイツ）、ドイツ オンウェハーでの校正および ディエンベディングについて考察します |
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