SiPH Probe Systems - シリコンフォトニクスデバイス特性評価セミオートプローバー
シリコンフォトニクスデバイスの特性評価用に設計された最大300mmウェハ対応セミオートプローブシステムです。
・シングル、デュアルポジショナーセットアップで様々なオプションを含んだ高性能ファイバアライメントシステム ・ファイバー、ウェハ間の接近検知による衝突防止 ・推奨温度範囲:-40〜100°C、システムは-60°C〜300°Cのフルレンジをサポートします。 ・最小限に抑えたシステム設置面積
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Features & Benefits
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イージーウェハローディング
大きく開くデュアルフロントドアにより、大きなウェハやチップも出し入れが容易に行えます。 校正基板用サブステージも正面に配置され、RFキャリブレーションやプローブカードのクリーニングなど容易に自動化が可能です。 |